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ESD, CDM 및 래치 업 테스트를 특징으로하는 당사는 모든 정전 파괴 테스터 및 테스트 헤드를 지원합니다. 완전 자동 ESD, CDM 및 래치 - 업 테스트 시스템 높은 핀 수 테스터 사진 핀  행렬 최대  전압 Vcc 테스트 모델 int 내선 ESD CDM 승급 법안 용도 1024  (2048) 8000V 6 4 승인 - 승인 승인 높은 핀 수  IC M7000X 512  (1024) M7000B 512 - 4 - - - 승인 승인 M7600L 128 자 8000V 4 8 승인 - - 승인 로우 핀 카운트  IC M7500E 승인 M7500EL - 4000V - - - 승인 - - IC  LSI CDM550 512 4 4 승인 CDM550M ESD / CDM / 래치 - 업 테스터 사진 핀  행렬 최대  전압 Vcc 테스트 모델 int 내선 ESD CDM 승급 법안 용도 - ESD 8000V  CDM 4000V - - 승인 승인 - 승인 전자  부품 M1100 128  (256) 6 승인 IC  LSI M1200 ESD / CDM / TLP 시뮬레이터 사진 최대  전압 테스트 모델 ESD CDM TLP 법안 용도 1000V 승인 - - 승인 MR 헤드 Ecdm-100E 4000V 승인 승인 LED  IC Ecdm-400E 8000V - - Ecdm-800E 4000V 승인 - - 승인 웨이퍼 Ecdm-400SW 칩 Ecdm-400SC 4000V 승인 - - 승인 전자  부품  (LED) Ecdm-400S-AUTO 8000V Ecdm-800S-AUTO 4000V - - 승인 승인 전자  부품  (IC) Ecdm-400S-TLP TLP 테스터 4002/4012 모델 * 모델 4002는 세계 최초의 TLP 테스트 시스템입니다.  * 각 펄스 후 누설 전류 측정에 의한 손상 감지  * 펄스 상승 시간 : 0.2ns, 2ns 및 10ns (4002) /0.1ns, 0.2ns 및 0.4ns (4012) CMR 테스터 모델 6200 * 고압 DV / DT 발생기  * 펄스 전압 (DT) : +/- 500V ~ 2kV  * DV / DT 선택 : 1kV / us, 5kV / us, 10kV / us, 20kV / us, 30kV / us

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