ESD / LATCH-UP 테스터 모델 7500모델 7500E / 7500L / 7500EL
[모델 7500E] | 인체 모델 (HBM), 기계 모델 (MM)의 ESD 테스트는 반도체 소자의 정전기 방전에 대한 신뢰성 시험의 핵심 과제입니다. 또한 래치 업 시험은 주로 CMOS IC의 신뢰성 시험 항목으로 생략 할 수 없습니다. M7500은 128 핀까지의 IC에 대해 낮은 가격의 ESD 래치 업 테스트 장비입니다. |
[모델 7500EL] | M7500는 1 축 로봇에 취부 된 ESD 펄스 발생 장치에서 ESD 모델을 결정합니다. 따라서 몇 년에 한 번 업데이트되는 새로운 파형 규격에 대한 대응이 ESD 펄스 발생 장치 만 변경 대응할 수 있고, 장기간 사용하실 수 있습니다. 또한 최신 규격 대응에서 기존 규격에 다시 시험하는 것도 쉽게 할 수 있습니다.
현재 표준 초안을 토의중인 과도 래치 업의 규격 등을 제정되면 신속하게 대응할 수 있습니다. |
기능- - MIL, EIA / JEDEC, JEITA, AEC, ESDA 표준 준수
- - 총 128 핀 다음에 최대 10 개의 장치를 동시에 시험 할 수 있습니다.
- - PC 모니터 화면에서 V-I 커브를 눈으로 확인하면서 시험 가능.
- - 핀 조합 시험에 완벽하게 대응 가능.
- - 고속 ESD인가 가능.
- - 로켓 탑재 용 커넥터를 채용하고 있기 때문에 안정성도 높고, 고온 기내에서도 사용 가능.
- - 방전 파형은 국내외 규격을 만족뿐만 아니라, 장치 제조업체 고유의 사내 규격에 대응하는 일도 가능.
- - 1 핀 1 장의 소형 보드를 채용하고 있기 때문에, 경로의 저 임피던스 화를 실현하고 유지 보수도 용이하다.
- - LAN 회선을 연결하여 음치의 시험 조건의 작성, 시험 개시 지령의 외부 데이터 수집 등 가능.
- - 고온 장치를 연결하여 최대 125 ℃까지의 래치 업 시험 가능.
- - 래치 업의 특정 지점을 방출 현미경으로 검출 가능.
- - 래치 업의 온도 특성 측정
- - 래치 업 발생 과정의 모니터
- - 방출 현미경 연결
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