Model Ecdm-400SW 1 페이지

웨이퍼, 칩, 패키지의 시험이 가능한 반자동 ESD 테스터

당사의 만능 형 ESD 시뮬레이터, Ecdm 400E를 사용한 반자동 ESD 테스터입니다. 설명서 · 프로 버 전용 프로 버를 병용함으로써 웨이퍼, 칩 IC에서 ESD 보호를 자동으로 측정 할 수 있습니다. 물론 패키지 봉입 된 IC 시험도 가능합니다. ESD 스트레스에 의한 파괴의 검출은 직류 측정기에 의해 VI 곡선과 누설 전류의 변화를 감지합니다. 스트레스인가 전압이나 시료의 특성 열화, 파괴 검사의 시험 조건을 PC에서 GP-IB에서 설정 측정 판정합니다. 시험 단자를 수동으로 선택한 후 파괴 내량의 측정까지 자동으로 측정합니다.

기능

• - MIL, EIA / JEDEC, JEITA, AEC, ESDA 준수 (HBM, MM)
• - 웨이퍼, 칩 ESD 테스트를 저렴한 비용으로 실시 할 수 있습니다.
• - PC 모니터 화면에서 V-I 커브를 눈으로 확인하면서 시험 가능.
• - 여러 그랜드 라인의 전류를 별도로 측정 가능.
• - 방전 파형은 국내외 규격을 만족뿐만 아니라, 장치 제조업체 고유의 사내 규격에 대응하는 일도 가능.
• - 프로그래밍, DUT 보드를 필요로하지 않기 때문에 평가 기간을 단축 할 수 있습니다.
• - 옵션 피코 암미터를 붙이는 것이 있습니다.